L’interesse e l’impegno per le nanotecnologie e le loro applicazioni è destinato a crescere sempre di più, ma sia l’attività di R&S che il trasferimento a livello industriale di nuovi prodotti e processi da esse derivati, si scontra con la mancanza di un quadro di riferimento consolidato dal punto di vista della misurazione a livello nanometrico, di standard e normative riconosciuti. La soluzione di questo problema, reso ancor più complesso dal carattere multidisciplinare e multisettoriale delle nanotecnologie, è fondamentale. Non a caso la nanometrologia è tra gli obiettivi di ricerca prioritari del 7° Programma quadro della UE.
Il confronto e la collaborazione tra comunità scientifica e industria diventa una leva essenziale per individuare le problematiche cruciali nei diversi ambiti produttivi e mettere in evidenza le risposte che la ricerca può dare o i temi sui quali questa dovrebbe/potrebbe impegnarsi.
L’ evento sarà basato in primo luogo su esperienze ed esigenze industriali, e avrà un approccio prettamente application-oriented.
Sono previsti contributi di esponenti della industria e della ricerca pubblica nazionali e anche di alcuni selezionati esperti internazionali, che consentiranno di fare il punto su stato dell’arte e possibili innovazioni inerenti le tecniche e i metodi di misura, la strumentazione e i campioni.
Particolare attenzione verrà data ai settori di maggior interesse in ambito nazionale, nell'intento di promuovere sinergie e collaborazioni.
Il programma prevede anche interventi sulle problematiche connesse alla sicurezza e un aggiornamento sugli orientamenti attuali per ciò che riguarda regolamentazione e normative.
Nanofabbricazione, Tecniche top-down, Nanoelettronica, Dispositivi Quantici
Metrologia a scala atomica, Superfici e strati sottili
Materiali nanostrutturati, Nanocompositi, Nanoparticelle
Tecniche interdisciplinari
Molti sono coloro che potranno trarre vantaggio dalla partecipazione al convegno. I ricercatori pubblici potranno individuare potenziali tematiche di ricerca su cui puntare, i ricercatori privati potranno acquisire informazioni sullo stato dell'arte della ricerca e su altre esperienze industriali, i produttori e distributori di strumentazione, i rappresentanti di organismi di controllo e normazione, i pianificatori (nelle imprese e pubblici) troveranno indicazioni circa gli sviluppi e la definizione di metodologie, di standard e processi produttivi, utili per indirizzare le loro scelte strategiche.
Al fine di ampliare lo spettro ed il numero dei contributi e favorire la discussione ed il confronto, è prevista una sessione poster che i partecipanti al convegno potranno visionare durante tutto il workshop.
Coloro che sono interessati ad esporre un poster dovranno far pervenire un abstract (300 parole) che illustri i contenuti del loro contributo alla segreteria del Convegno non oltre il 30 aprile 2007.
L’eventuale accettazione verrà comunicata agli interessati entro l’ 11 maggio 2007. L’abstract dei poster accettati sarà incluso negli atti del programma.
Stefano Bellucci, INFN - Laboratori Nazionali di Frascati
Anna Maria Fiorello, Selex Sistemi Integrati
Massimo Gentili, Pirelli Labs
Gianfranco Innocenti, Centro Ricerche Fiat
Elvio Mantovani, Airi / Nanotec IT
Andrea Di Matteo, STMicroelectronics
Marco Peloi, Sincrotrone Trieste
Gian Bartolo Picotto, INRiM
Andrea Porcari, Airi / Nanotec IT
Roberto Zamboni, CNR / ISMN, Bologna
Istituto Nazionale di Ricerca Metrologica- INRiM
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